近日，上海交通大学电子信息与电气工程学院、北京大学集成电路学院联合概伦电子正式发布新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK，通过校企深度合作填补了国产半导体参数测试系统在短脉冲测试（PIV）的空缺，为国内产学研深度合作树立了新的标杆。

该项研究成果由黄如院士领衔的北京大学、上海交通大学团队和概伦电子联合研发。作为短脉冲IV(PIV)测试技术的先行者，黄如院士带领团队探索出一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。其中，由黄如院士带领的上海交大电院纪志罡教授研究小组在短脉冲捕捉电路架构和信号处理算法方面的突破，保障了系统的高精度。概伦电子基于黄如院士联合团队提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发，最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。

上海在先进器件研究过程中，新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性，更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小，一些现象需要在极短的时间内才能观察到，例如先进工艺下的MOS器件的BTI效应，新兴存储器件如铁电器件的瞬时反转特性等。基于短脉冲的测试则为该类研究奠定了坚实的基础。

作者： 电子信息与电气工程学院 供稿单位： 电子信息与电气工程学院