清华新闻网9月27日电 9月20至21日，第二届新型探测与成像技术青年学者论坛在清华大学甲所举办。本次论坛由危爆物品扫描探测技术国家工程实验室主办，中国体视学学会、中国电子学会太赫兹分会协办。

论坛旨在搭建新型探测与成像技术领域的学术、技术、产业交流和研讨平台，促进青年学者们间的交流合作，探讨新型探测与成像技术的前沿问题和发展方向。本次论坛也是继第一届危爆物品扫描探测技术青年学者论坛举办后，该领域青年学者的再次相聚。

来自电子科技大学、东南大学、南京航空航天大学、南开大学、上海理工大学、深圳大学、天津大学、中国科学院电子学研究所、中国科学院上海技术物理研究所、英国南安普顿大学、北京理工大学、中国电子科技集团、中国计量科学研究院等29家单位的近百位代表参会。危爆物品扫描探测技术国家工程实验室副主任、清华大学工物系研究员赵自然代表工程实验室致辞并向与会专家介绍了实验室的建设情况。

论坛现场

本次论坛共安排了10个报告，由清华大学耿华副教授、天津大学田震教授、中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所孙建东副研究员和清华大学王迎新副研究员主持。英国工程院院士、南安普顿大学（University of Southampton）Harvey Rutt教授、中国科学院上海技术物理研究所胡伟达研究员应邀大会报告，南京航空航天大学潘时龙教授、上海理工大学朱亦鸣教授、深圳大学黄磊教授、电子科技大学张雅鑫教授、东南大学蒋卫祥研究员、中国科学院电子学研究所刘文鑫研究员、天津大学王与烨副教授、南开大学范飞副教授分别作邀请报告，介绍了毫米波/太赫兹电子学器件、太赫兹与红外探测技术、毫米波/太赫兹成像与波谱技术、太赫兹传输与调控技术等方面的研究进展。

参会代表合影

报告结束后，与会嘉宾学者就毫米波、太赫兹与红外技术在危爆物品扫描探测方面的关键技术、发展机遇与未来研究方向进行了圆桌讨论，并对论坛未来的组织、筹备、举办形式及发展提出了意见和建议。本次论坛为从事新型探测与成像技术，尤其是毫米波、太赫兹、红外探测与成像领域的青年学者提供了一个良好的交流平台，对促进该领域的学术发展和实践应用具有重要意义。

供稿：危爆物品扫描探测技术国家工程实验室 编辑：赵姝婧 审核：襄楠